<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>Электронный научно-практический журнал «Современные научные исследования и инновации» &#187; автоматизация (automation)</title>
	<atom:link href="http://web.snauka.ru/issues/tag/avtomatizatsiya-automation/feed" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>https://web.snauka.ru</link>
	<description></description>
	<lastBuildDate>Fri, 17 Apr 2026 07:29:22 +0000</lastBuildDate>
	<language>ru</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
	<generator>http://wordpress.org/?v=3.2.1</generator>
		<item>
		<title>Математическая модель автоматизации резервирования узлов электронной аппаратуры</title>
		<link>https://web.snauka.ru/issues/2017/02/78710</link>
		<comments>https://web.snauka.ru/issues/2017/02/78710#comments</comments>
		<pubDate>Tue, 28 Feb 2017 10:07:44 +0000</pubDate>
		<dc:creator>Лагута Антон Евгеньевич</dc:creator>
				<category><![CDATA[05.00.00 ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ]]></category>
		<category><![CDATA[automation]]></category>
		<category><![CDATA[mathematical model]]></category>
		<category><![CDATA[redundancy]]></category>
		<category><![CDATA[автоматизация]]></category>
		<category><![CDATA[автоматизация (automation)]]></category>
		<category><![CDATA[математическая модель]]></category>
		<category><![CDATA[резервирование]]></category>

		<guid isPermaLink="false">https://web.snauka.ru/issues/2017/02/78710</guid>
		<description><![CDATA[&#160; Научный руководитель: Соловьев В.А., доцент кафедра «Проектирование и технология производства электронной аппаратуры» Введение Обеспечение безусловной надежности технического устройства на практике – недостижимая цель, нодостичь ощутимого улучшения показателей надежности вполне реально, и это является действительно одной из важнейших научных и технологических задач, решаемых на высоком техническом уровне. Повышение уровня надежности электронной аппаратуры достигается, прежде всего, [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>&nbsp;</p>
<p style="text-align: center;" align="right"><em>Научный руководитель: Соловьев В.А., доцент</em></p>
<p style="text-align: center;" align="right"><em>кафедра «Проектирование и технология производства электронной аппаратуры»</em></p>
<p><strong><span>Введение</span></strong><br />
<span>Обеспечение безусловной надежности технического устройства на практике – недостижимая цель, нодостичь ощутимого улучшения показателей надежности вполне реально, и это является действительно одной из важнейших научных и технологических задач, решаемых на высоком техническом уровне. Повышение уровня надежности электронной аппаратуры достигается, прежде всего, благодаря устранению причин, из-за которых происходят различного рода отказы, обусловленные ошибками в конструкции, технологии или эксплуатации [1]. </span><br />
<span>Серьезное повышение надежности электронной аппаратуры достигается путем создания новых элементов. Хотя, повышением надежности элементов не удастсядо конца решить проблему создания надежнойЭА, так как электроника с каждым годом становится все более сложной, а также создание элементов высокой надежности является довольно дорогостоящим. Поэтому, одним из главенствующих принципов повышения надежности электронной аппаратуры является резервирование. </span><br />
<span>В настоящее время мало внимания уделено автоматизации резервирования узлов электронной аппаратуры, разработке эффективных методов быстрого расчета и выбора методов резервирования, наиболее подходящих техническим условиям [2]. </span><br />
<span>В данной статье представлена математическая модель автоматизации расчета резервирования узлов электронной аппаратуры по критериям минимизации массы и максимальному значению вероятности безотказной работы, которую в дальнейшем можно использовать для разработки алгоритма автоматизации резервирования и реализации программного обеспечения.</span></p>
<p><strong><span>1 Задача автоматизации резервирования узлов электронной аппаратуры</span></strong><br />
<span>Для составления математической модели прежде всего нужно определить, какую задачу выполняет сама автоматизация резервирования узлов ЭА. </span><br />
<span>Задачей автоматизации резервирования является быстрый расчет надежности узлов ЭА по виду резервирования, сравнение результатов расчетов с условиям из ТЗ и выбор наилучших решений по критериям минимизации массы и максимальному значению вероятности безотказной работы за указанное время.</span><br />
<span>Расчеты заключаются в определении показателей надежности изделия по известным характеристикам составляющих компонентов и условиям эксплуатации. Результатами расчетов являются значения интенсивности отказов узла </span><span>л</span><span>, средней наработки на отказT</span><sub><span>ср</span></sub><span> и вероятности безотказной работы P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) и общей массы узла с резервированием М</span><sub><span>общ</span></sub><span>. </span></p>
<p><strong><span>2. Анализ исходных данных для расчета надежности узлов</span></strong><br />
<span>Исходными данными для расчета надежности узлов электронной аппаратуры для различных видов резервирования принимаются такие параметры, как тип элемента, количество выводов элемента, количество элементов в узле, интенсивность отказов элемента, коэффициент нагрузки и поправочный коэффициент.</span><br />
<span>Интенсивность отказов элемента с учетом условий эксплуатации рассчитываются по формуле:</span></p>
<div align="center"><span>л</span><sub><span>i</span></sub><span> = </span><span>л</span><sub><span>0i</span></sub><span> · k</span><sub><span>1</span></sub><span> · k</span><sub><span>2</span></sub><span> · k</span><sub><span>3</span></sub><span> · k</span><sub><span>4</span></sub><span> · </span><span>б</span><sub><span>i</span></sub><span> (T</span><sub><span>K</span></sub><span>, K</span><sub><span>H</span></sub><span>) (5)</span></div>
<p><span>Где </span><span>л</span><sub><span>0i</span></sub><span> – интенсивность отказов компонента при нормальных условиях эксплуатации, k</span><sub><span>1</span></sub><span> и k</span><sub><span>2</span></sub><span> – поправочные коэффициенты на механические воздействия, k</span><sub><span>3</span></sub><span> – поправочный коэффициент на воздействие влажности и температуры, k</span><sub><span>4</span></sub><span> – поправочный коэффициент на давление воздуха, </span><span>б</span><sub><span>i</span></sub><span> (T</span><sub><span>K</span></sub><span>, K</span><sub><span>H</span></sub><span>) – поправочный коэффициент в зависимости от температуры корпуса элемента T</span><sub><span>K</span></sub><span> и коэффициенты электрической нагрузки K</span><sub><span>H</span></sub><span>.</span></p>
<p><strong><span>3 Методики расчета для различных типов резервирования</span></strong><br />
<span>Типы резервирования, рассматриваемые при расчетах надежности электронных узлов представлена на рисунке.</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/79.gif" alt="" width="572" height="279" /></div>
<p><span>Каждый вид резервирования из-за особенностей того или иного узла будет по-разному влиять на общую массу, поэтому для каждого из видов резервирования нужно производить отдельный расчет общей массы. Расчет будет производиться суммированием массы резервируемого узла и массой резервных элементов:</span></p>
<div align="center"><span>M</span><sub><span>общ</span></sub><span> = М</span><sub><span>узл </span></sub><span>+ ∑m</span><sub><span>i </span></sub></div>
<p><span>Где M</span><sub><span>общ </span></sub><span>– общая масса, М</span><sub><span>узл </span></sub><span>– масса узла</span><sub><span>, </span></sub><span>m</span><sub><span>i</span></sub><span>–масса i-го резервного элемента.</span></p>
<p><span>Для каждого вида резервирования расчет характеристик надежности происходит по разным расчетным формулам:</span><br />
<span>Для нерезервированной системы [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/81.gif" alt="" width="80" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>;</span><sub><span> </span></sub><span>T</span><sub><span>ср </span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/81(1).gif" alt="" width="23" height="28" /><span> ; P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/81(2).gif" alt="" width="55" height="20" /><span> </span><span>,</span></div>
<p><span>где </span><span>л – </span><span>интенсивность отказов нерезервированный цепочки компонентов, </span><span>л</span><sub><span>компi</span></sub><span> – интенсивность отказа i-го компонента, T</span><sub><span>ср</span></sub><span> – средняя наработка на отказ, P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) – вероятность безотказной работы, n</span><sub><span>комп</span></sub><span> – число компонентов устройства, t</span><sub><span>б.р</span></sub><span> – время безотказной работы.</span><br />
<span>Нагруженный резерв с общим резервированием без восстановления отказавшего устройства [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/82.gif" alt="" width="80" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/82(1).gif" alt="" width="184" height="32" /><sub><span> </span></sub><span>; </span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/82(2).gif" alt="" width="161" height="23" /><span> </span><span>,</span></div>
<p><span>где n</span><sub><span>гр.рез</span></sub><span>– количество групп резервирования, n</span><sub><span>комп</span></sub><span> – число компонентов в группе резервирования.</span><br />
<span>Нагруженный резерв с общим резервированием и восстановлением отказавшего устройства [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/83.gif" alt="" width="80" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/83(1).gif" alt="" width="45" height="29" /><sub><span> </span></sub><span>;</span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/83(2).gif" alt="" width="257" height="29" /><span>,</span></div>
<p><span>где u = 1/ṫ</span><sub><span>восст</span></sub><span>, A = v(</span><span>л</span><sup><span>2</span></sup><span>+6л</span><span>u+u</span><sup><span>2</span></sup><span>), B</span><span> = 3л+</span><span>u, ṫ</span><sub><span>восст</span></sub><span>– среднее время восстановления.</span><br />
<span>Нагруженный резерв с поэлементным резервированием без применения переключающих устройств [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/84.gif" alt="" width="80" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/84(1).gif" alt="" width="35" height="29" /><span>;</span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/84(2).gif" alt="" width="240" height="29" /><span>.</span></div>
<p><span>Нагруженный резерв с поэлементным резервированием с учетом надежности переключающих устройств [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/85.gif" alt="" width="83" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/85(1).gif" alt="" width="35" height="29" /><span>;</span></div>
<div style="text-align: center;" align="right"><span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/86.gif" alt="" width="444" height="41" /><span>] ,</span></div>
<p><span>где </span><span>л</span><sub><span>перj</span></sub><span> – надежность j-го переключателя.</span><br />
<span>Нагруженный резерв с общим резервированием без восстановления отказавшего устройства [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/87.gif" alt="" width="80" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/87(1).gif" alt="" width="203" height="33" /><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/88.gif" alt="" width="471" height="34" /><span>.</span></div>
<p><span>Ненагруженный резерв с общим резервированием без восстановления отказавшего устройства:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/89.gif" alt="" width="83" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/89(1).gif" alt="" width="45" height="29" /><sub><span> </span></sub><span>;</span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/90.gif" alt="" width="257" height="29" /><span> ,</span></div>
<p><span>где u = 1/ ṫ</span><sub><span>восст</span></sub><span>, A = v(4</span><span>л</span><span>u+u</span><sup><span>2</span></sup><span>), B = 2</span><span>л</span><span>+u.</span><br />
<span>Ненагруженный резерв с общим резервированием и восстановлением отказавшего устройства [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/90(1).gif" alt="" width="83" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/90(2).gif" alt="" width="50" height="28" /><sub><span> </span></sub><span>;</span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/91.gif" alt="" width="161" height="44" /><span>.</span></div>
<p><span>Ненагруженный резерв с поэлементным резервированием без применения переключающих устройств [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/91(1).gif" alt="" width="83" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/92.gif" alt="" width="270" height="32" /><sub><span> </span></sub><span>;</span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/93.gif" alt="" width="177" height="36" /><span>.</span></div>
<p><span>Ненагруженный резерв с плавающим поэлементным резервированием без восстановления отказавшего устройства [5]:</span></p>
<div align="center"><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/93(1).gif" alt="" width="83" height="23" /><sub><span>компi </span></sub><span>; T</span><sub><span>ср</span></sub><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/93(2).gif" alt="" width="74" height="32" /><span>;</span><br />
<span>P(t</span><sub><span>б.р</span></sub><span>) </span><img src="http://content.snauka.ru/web/78710_files/94.gif" alt="" width="213" height="35" /><span>.</span></div>
<p><span>Для каждого типа резервирования в итоге получаются различные масса и характеристики надежности, которые используются для отбора подходящих вариантов.</span></p>
<p><strong><span>4 Обработка результатов </span></strong><br />
<span>После проведения расчетов массы и параметров надежности при разных видах резервирования, необходимо проверить результаты на соответствие с ТЗ и выбрать подходящие варианты. Затем среди полученных вариантов произвести сравнение и выбор лучших по критериям минимизации массы и максимальному значению вероятности безотказной работы, т.е. выбор вариантов с минимально возможной массой и максимально возможной надежностью. При вариантах, колеблющихся в сторону меньшей массы, но меньшим значением вероятности безотказной работы или наоборот, выбор осуществлять в зависимости от того, что более предпочтительно в ТЗ, меньшая масса или большая надежность [6].</span><br />
<span>В результате получаем варианты резервирования узла, удовлетворяющие ТЗ и всем критериям оптимизации, которые и являются решениями задачи автоматизации резервирования узлов электронной аппаратуры. </span></p>
<p><strong><span>Заключение</span></strong><br />
<span>Сформулированная математическаямодель автоматизации резервирования узлов ЭА будет полезна при разработке алгоритма для реализации программного обеспечения по автоматизации резервирования, так как позволяет получить всю нужную информацию для решения основных её задач.</span></p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>https://web.snauka.ru/issues/2017/02/78710/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>
