<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>Электронный научно-практический журнал «Современные научные исследования и инновации» &#187; dsboyko</title>
	<atom:link href="http://web.snauka.ru/issues/author/dsboyko/feed" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>https://web.snauka.ru</link>
	<description></description>
	<lastBuildDate>Fri, 17 Apr 2026 07:29:22 +0000</lastBuildDate>
	<language>ru</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
	<generator>http://wordpress.org/?v=3.2.1</generator>
		<item>
		<title>Метод контроля углового распределения рассеянного излучения от шероховатой поверхности при использовании сфероидных рефлекторов</title>
		<link>https://web.snauka.ru/issues/2014/07/34469</link>
		<comments>https://web.snauka.ru/issues/2014/07/34469#comments</comments>
		<pubDate>Tue, 01 Jul 2014 20:17:07 +0000</pubDate>
		<dc:creator>dsboyko</dc:creator>
				<category><![CDATA[05.00.00 ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ]]></category>
		<category><![CDATA[сфероидный рефлектор]]></category>
		<category><![CDATA[шероховатость поверхности]]></category>

		<guid isPermaLink="false">https://web.snauka.ru/?p=34469</guid>
		<description><![CDATA[В результате механической обработки деталей, их поверхность имеет неровности, выступы и впадины сложных очертаний, осуществляющих существенное влияние на эксплуатационные показатели изделий. Это обуславливает тщательный контроль качества обработки поверхностей деталей, который во многих случаях затруднен профилем поверхности. Поэтому широко используются оптические, в частности лазерные измерительные приборы для контроля шероховатой поверхности [1]. Был проведен анализ типологии измерительных [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>В результате механической обработки деталей, их поверхность имеет неровности, выступы и впадины сложных очертаний, осуществляющих существенное влияние на эксплуатационные показатели изделий. Это обуславливает тщательный контроль качества обработки поверхностей деталей, который во многих случаях затруднен профилем поверхности. Поэтому широко используются оптические, в частности лазерные измерительные приборы для контроля шероховатой поверхности [1].</p>
<p>Был проведен анализ типологии измерительных средств для контроля шероховатой поверхности с использованием сфероидних рефлекторов. Лазерное контрольное устройство в сочетании со сфероидним рефлектором  дает возможность оценить высоту микронеровностей поверхности обрабатываемой детали, подобрать оптимальные режимы обработки при максимальной производительности а так же предупредить брак деталей [2]. На основании систематизации принципов их работы, произведено принципы построения подобных устройств, состоящих в необходимости сканирования исследуемой поверхности апертурой малых размеров с протекающим изменением радиального наклона сканирующего луча. Как элемент оптической системы применяется сфероидный рефлектор изображен на рис.1, который имеет  относительно простую конструкцию и небольшие размеры. Возможность изменения разрешения преобразователя, низкий уровень шумов, широкий спектральный диапазон, высокое быстродействие, высокий динамический диапазон позволяют использовать координатные фотоприемники, в частности ПЗС камеры, без включенного блока автоматической регулировки усиления для обеспечения фотометрического сходства измеренного сигнала.</p>
<p align="center"><a href="https://web.snauka.ru/issues/2014/07/34469/reflektor" rel="attachment wp-att-34470"><img class="aligncenter size-full wp-image-34470" src="https://web.snauka.ru/wp-content/uploads/2014/05/Reflektor.png" alt="" width="394" height="426" /></a></p>
<p align="center">Рисунок – 1 Сфероидный рефлектор</p>
<p>В работе предложен метод контроля углового распределения рассеянного излучения с помощью сфероидного рефлектора. Сущность метода проиллюстрирована устройством, изображенным на рис.2. В устройстве используется лазерный источник излучения 3, параметры которого (мощность, длина волны, степень когерентности, режим , диаметр пучка и т.д. ) зависят от исследуемого объекта 4 и определяются его структурой. Блок управления БК обеспечивает механический поворот лазера 3 на угол ξ. Луч света под этим углом направляется на шероховатую поверхность, взаимодействует с ней, и  в виде пятна рассеяния, содержащий диффузную и зеркальную составляющую , проектируется с первой фокальной плоскости сфероидного рефлектора 1 в его вторую фокальную плоскость и переносится с помощью формовочной оптической системы 2 на координатный приемник излучения и анализируется с помощью ПК. Характерной чертой сфероидного рефлектора является его ортогональная усеченность по фокальным плоскостям , что обеспечивает проектировочные свойства при размещении опытного образца в одной из фокальных плоскостей .</p>
<p><a href="https://web.snauka.ru/issues/2014/07/34469/shema-5" rel="attachment wp-att-34471"><img class="aligncenter size-full wp-image-34471" src="https://web.snauka.ru/wp-content/uploads/2014/05/Shema.jpg" alt="" width="433" height="480" /></a></p>
<p align="center"> Рисунок – 2 Схема установки для контроля шероховатой поверхности сфероидним рефлектором</p>
<p>Использование сфероидних рефлекторов  &#8211; расширит область применения,  даст возможность получать более точные  результаты о шероховатости поверхности в не зависимости от типа обработки, позволит сократить затраты времени на подготовку к измерению шероховатости поверхности, влиять непосредственно на обрабатывающей процесс, также будет возможность останавливать или продолжать обработку поверхности зависимо от полученных результатов  измерения [1]. Также использование сфероидних рефлекторов позволяет контролировать шероховатость поверхности практически в любой точке детали.</p>
<p>Исходя из результатов работы всей системы и результатов моделирования этой системы, получаем возможность подобрать необходимую конфигурацию рефлектора для конкретной измерительной системы.</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>https://web.snauka.ru/issues/2014/07/34469/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>
