КОМПЛЕКСНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И ОПТИЧЕСКИХ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КОРУНДОВЫХ ЭЛЕКТРОКЕРАМИК

Еремина Виктория Владимировна1, Мироненко Александр Михайлович2
1Амурский государственный университет, кандидат физико-математических наук, доцент кафедры информационных и управляющих систем
2Амурский государственный университет, магистр

Аннотация
В статье рассмотрена возможность имитационного моделирования диэлектрических и оптических показателей промышленных образцов композиционных корундовых электрокерамик в области упругой электронной поляризации. Представлены итоговая методика и результаты компьютерного моделирования диэлектрических спектров и оптического показателя преломления керамик с оценкой их адекватности реально наблюдаемым свойствам.

Ключевые слова: композит, корунд, моделирование, поляризация, электрокерамика


COMPLEX MODELING OF DIELECTRIC AND OPTICAL CHARACTERISTICS OF CORUNDUM ELECTROCERAMIC

Eryomina Victoria Vladimirovna1, Mironenko Alexandr Michailovich2
1Amur State University, PhD in Physics and Mathematical Sciences, Associate Professor of the Information and Control Systems Department
2Amur State University, Master of Computer Science

Abstract
The article considers the possibility of simulation of dielectric and optical indicators industrial designs composite corundum electroceramic in the field of elastic electronic polarization. Summarizes the methodology and results of computer modeling of dielectric spectra and the optical refractive index of the ceramic with the assessment of their adequacy to the actually observed properties.

Keywords: composite, corundum, electroceramic, modeling, polarization


Рубрика: 01.00.00 ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ

Библиографическая ссылка на статью:
Еремина В.В., Мироненко А.М. Комплексное моделирование диэлектрических и оптических показателей корундовых электрокерамик // Современные научные исследования и инновации. 2015. № 4. Ч. 1 [Электронный ресурс]. URL: https://web.snauka.ru/issues/2015/04/52101 (дата обращения: 14.03.2024).

Всякая керамика представляет собой в той или иной степени перспективный конструкционный материал. Таким образом, всестороннее исследование физических свойств любых представителей этого класса конденсированных сред, несмотря на тысячелетнюю историю использования керамики как таковой, остается актуальной проблемой, особенно с точки зрения технических наук.

Как известно, любой керамический диэлектрик является многокомпонентной системой, состоящей из кристаллической, стекловидной и газовой фаз вещества. При этом систематизировать общие характеристики электротехнических материалов данного класса по признаку «свойство» оказывается достаточно сложно, так как разнообразие их функциональных качеств не позволяет выявить минимальное количество общих признаков. Таким образом, наиболее распространенная классификация электротехнических керамик обычно проводится по признаку «состав», – например, корундовая, кварцевая, стеатитовая, кордиеритовая керамики и т.д. [1].

Корундовая керамика представляет собой высокоглиноземистые материалы, имеющие массовую долю оксида алюминия Al2O3 (корунда) – от 70 до 100 процентов. Например, к ней относятся промышленные образцы электрокерамик микролит, поликор, ГБ-7.

Химический состав промышленного образца композиционной электротехнической керамики, выбранный в качестве объекта проводимого исследования (таб. 1).

Таблица 1 – Химический состав исследуемого образца

 Компоненты

Микролит

 Na2O

0,10

 MgO

 0,48

 Al2O3

99,34

 SiO2

0,05

Математическая модель упругой электронной поляризации любого отдельно взятого компонента корундовой керамики, представляющей собой композицию кристаллических оксидов, адекватно выражается системой уравнений вынужденных гармонических колебаний с трением [2]:

begin{matrix} frac{d^{2}mu_{k}(t)}{dt^{2}} + 2beta  frac{dmu_{k}(t)}{dt} + omega _{0k}^{2}mu_{k}(t) = frac{2e^{2}}{m_{e}}E(t), k=overline{1,K}     E(t) = E_{0}(t)-frac{2}{3varepsilon_{0}} sum_{i=1}^{K}mu _{i}(t)N_{i}    end{matrix}, (1)

где μk(t) – функции, описывающие изменения дипольных моментов электронных пар ионов (индекс k от 1 до 5 соответствует аниону кислорода, а другие – соединенному с ним катиону); K – общее число разновидностей электронных пар; βk, ω0k – коэффициенты затухания и частоты их собственных колебаний; e и me – заряд и масса электрона; E0(t), E(t) – функции напряженности внешнего и эффективного полей; Ni – концентрации ионов; ε0 – диэлектрическая проницаемость вакуума.

На основании выражений (1) вытекают непосредственно уравнения комплексной поляризуемости αk() электронных пар, а также кибернетическая модель комплексной диэлектрической проницаемости ε() [3]:

begin{matrix} alpha _{k}(jomega )=frac{2e^{2/m_{e}}}{omega _{ok}^{2} + omega ^2+j2beta _komega }, k=overline{1,K} ,  varepsilon (jomega ) = 1 + frac{2}{3varepsilon_{0}} sum_{i=1}^{K} alpha _{i}(jomega )N_{i} end{matrix}.. (2)

Динамические параметры рассматриваемых физических процессов в свою очередь могут быть определены аналитически с помощью следующих формул:

omega _{0k}^{2} = frac{Q_ke^2}{4pivarepsilon_0m_varepsilon r_k^3}; 2beta_k = frac{4e^2omega_{0k}^2 mu_0}{6pi c m_e}; r_k=frac{n_{k}^2 bar{h}^2}{Q_ke^2 m_e}; k = overline{1,K}, (3)

где Qk – эффективный заряд атомного остатка, влияющий на конкретную электронную пару; rk – радиус ее орбитали; µ0 – магнитная проницаемость вакуума; c – скорость света в вакууме; nk – главное квантовое число орбитали; ћ – постоянная Планка.

Расчет эффективных зарядов может быть выполнен в рамках метода описания линейной комбинации атомных орбиталей Слэтера [4]. Сущность этого метода заключается в установлении постоянной экранирования σ*, позволяющей вычислить заряд атомного остатка, эффективно действующего на электроны произвольной оболочки частицы, с учетом эффекта экранизации ее атомного ядра внутренними электронами. Однако, методика описания слэтеровских атомных орбиталей изначально была сформирована исключительно для рассмотрения стационарных состояний атомов. Следовательно, обстоятельство появления полностью свободных предоптических оболочек в электронной конфигурации анионов обусловливает вероятность изменения типовых величин экранирующих вкладов их внешних электронов.

Для описания эффективных зарядов, влияющих на каждую из пар оптических электронов частицы кислорода со стороны его атомного остатка, предлагается использовать соотношения:

begin{matrix} Z_{2} = 8 - (2cdot 1,00+1cdot sigma ^{*});   Z_{3} = 8 - (2cdot 1,00+3cdot sigma ^{*});   Z_{4} = 8 - (2cdot 1,00+5cdot sigma ^{*});   Z_{5} = 8 - (2cdot 1,00+7cdot sigma ^{*}); end{matrix} (4)

где σ* – оптимизированное значение экранирующего вклада внешних электронов аниона, определяемое методом сканирования. В свою очередь алгоритм метода сканирования, используемого в данном случае для определения величин σ*, дающих возможность моделировать диэлектрические спектры кристаллов, практически адекватные их наблюдаемым поляризационным свойствам, состоит в реализации типового итерационного цикла.

После подбора подходящих значений экранирующего вклада оптических электронов анионов, выполненной на базе контрольных данных, соответствующих реальным диэлектрическим спектрам исследуемого материала в области видимых частот, должно быть достигнуто достаточно точное соответствие расчетных характеристик их экспериментальным аналогам.

Поскольку упругая электронная поляризация является аддитивным свойством вещества, не зависящим от его структуры и агрегатного состоя­ния, и складывается из поляризуемостей электронных оболочек отдельных ионов, исходная модель (1), трансформированная для кон­кретного керамического материала, может быть представлена в следующем общем вид:

begin{matrix} frac{d^{2}mu_{f,k}(t)}{dt^{2}} + 2beta _{f,k}  frac{dmu_{f,k}(t)}{dt} + omega _{0f,k}^{2}mu_{f,k}(t) = frac{2e^{2}}{m_{e}}E(t), f=overline  {1,F}, k=overline{1,K} ;    E(t) = E_{0}(t)-frac{2}{3varepsilon_{0}} sum_{i=1}^{F}C_{i}left (  sum_{j=1}^{K_i}mu _{i,j}(t)N_{i,j} right ) ,    end{matrix} (5)

где F - общее число разновидностей композитов, составляющих керамиче­ский образец; Сi – их процентное содержание в материале.

На основании как системы уравнений (5) может быть получена вещественная частотная характеристика ком­плексной диэлектрической проницаемости композиционного материала, ко­торая будет описываться следующим набором выражений:

begin{matrix} varepsilon'(omega ) = 1 + frac{2}{3varepsilon_{0}} sum_{i=1}^{F} left ( C_i sum_{j=1}^{K} alpha'_{i,j}(omega)N_{i,j} right ) ;  alpha'_{f,k}(omega) = frac{2e^2}{m_e} frac{omega _{0f,k}^2 - omega ^2}{left ( omega _{0f,k}^2 - omega ^2 right )^2 + 4b_{f,k}^2 omega ^2},   f=overline{1,F}, k=overline{1,K_f} . end{matrix} (6)

В свою очередь мнимая частотная характеристика комплексной ди­электрической проницаемости композиционного материала может быть по­лучена с помощью выражений:

begin{matrix} varepsilon''(omega ) = frac{2}{3varepsilon_{0}} sum_{i=1}^{F} left ( C_i sum_{j=1}^{K} alpha''_{i,j}(omega)N_{i,j} right ) ;   alpha''_{f,k}(omega) = frac{2e^2}{m_e} frac{2bomega _{0f,k}^2}{left ( omega _{0f,k}^2 - omega ^2 right )^2 + 4b_{f,k}^2 omega ^2}, f=  overline{1,F}, k=overline{1,K_f} . end{matrix} (7)

Расчет оптического показателя преломления производится по формуле:

n(omega ) =  sqrt{frac{|varepsilon'| + sqrt{varepsilon'^2(omega) + varepsilon''^2(omega)}}{2}}. (8)

С целью проверки эффективности моделирования оптического показателя преломления n(ω) и частотных спектров вещественной и мнимой частей комплексной диэлектрической проницаемости εʹ(ω) и εʹʹ(ω) рассматриваемого промышленного образца корундовой керамики был проведен вычислительный эксперимент (рис. 1). 

Рисунок 1 – Расчетные спектры микролита

Оценим погрешность результатов расчета n(ω), полученных в рамках предлагаемой методики, сравнивая их численные значения с контрольными величинами для одного образца керамики. Полученные в итоге значения представлены в таблице 2.

Таблица 2 – Оценка погрешностей результата расчета

Образец

 nконтр  nимитац

Δотн,%

 Δабс

Микролит

1,7607

1.7541

0.3744

0.0066

Таким образом, данная методика позволяет достаточно точно имитировать характеристики оптического показателя преломления и комплексной диэлектрической проницаемости корундовых керамик, имеющие место в области установления процессов их упругой электронной поляризации.


Библиографический список
  1. Диэлектрики и радиация. – В 8 кн. / под. общ. ред. Н.С. Костюкова. – М.: Наука, 2001-2008.
  2. Еремин И.Е., Жилиндина О.В. Моделирование упругой электронной поляризации композиционных электрокерамик. I // Информатика и системы управления. – 2008. – № 1(15). – С. 28-38.
  3. Еремин И.Е., Костюков Н.С. Построение модели процесса поляризации диэлектриков с помощью обратных связей // Информатика и системы управления. – 2001. – № 1. – С. 45-53.
  4. Эткинс П. Кванты. Справочник концепций / пер. с англ. – М.: Мир, – 1977. – 496 с.


Количество просмотров публикации: Please wait

Все статьи автора «Мироненко Александр Михайлович»


© Если вы обнаружили нарушение авторских или смежных прав, пожалуйста, незамедлительно сообщите нам об этом по электронной почте или через форму обратной связи.

Связь с автором (комментарии/рецензии к статье)

Оставить комментарий

Вы должны авторизоваться, чтобы оставить комментарий.

Если Вы еще не зарегистрированы на сайте, то Вам необходимо зарегистрироваться:
  • Регистрация